熱膨脹分析儀 SD-DIL 402 Expedis Supreme 集成了熱膨脹測量領域技術，為寬廣應用領域內的專業級的應用而設計。DIL Expedis 系列的所有型號均基于 NanoEye 測量系統，在測量范圍與精度兩方面達到了新的高度。

產品型號：SD-DIL 402 Expedis

更新時間：2024-11-17

廠商性質：代理商

訪問量：1337

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分析儀器

模塊式多組份分析儀系列紫外分析儀分析儀微量水分析儀系列原位式激光分析儀系列熱導分析儀系列氧分析儀系列紅外線分析系列

產品介紹

熱膨脹儀 SD-DIL 402 Expedis Supreme 基本功能

軟化點檢測
軟件控制的力的調整（包括：線性力，恒定力，斜變力，步階力）
調制力
密度測量
用于溫度校正和檢測熱效應的c-DTA® 功能
速率控制燒結 RCS
曲線識別，通過數據庫對比識別未知的ΔL/L0曲線
密度測量，能夠測量樣品密度的連續變化，可應用于固體、液體、熔體、粘稠樣品（如涂料），以及用于計算各向異性材料的體膨脹。

熱膨脹儀 SD-DIL 402 Expedis Supreme 技術參數

溫度范圍: -180 ... 2000°C（不同爐體）

升溫速率: 0 ... 100°C/min（不同爐體）

測量氣氛: 動態或靜態；氧化、還原、惰性、真空

樣品形態: 固體、液體、粉末

樣品載荷: 10mN ... 3N，可變，可調制（選配）

選配擴展功能: c-DTA®、譜圖檢索、速率控制燒結

量程: ±25000μm

測量分辨率: 0.1nm

測試模式: 單樣品/雙樣品，樣品長度自動檢測

Multitouch技術 : 標配

Nanoeye位移傳感及載荷控制技術: 標配