熱膨脹分析儀 SD-DIL 402 Expedis Supreme 集成了熱膨脹測量領(lǐng)域技術(shù)，為寬廣應(yīng)用領(lǐng)域內(nèi)的專業(yè)級的應(yīng)用而設(shè)計。DIL Expedis 系列的所有型號均基于 NanoEye 測量系統(tǒng)，在測量范圍與精度兩方面達(dá)到了新的高度。

產(chǎn)品型號：SD-DIL 402 Expedis

更新時間：2024-11-17

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：1393

服務(wù)熱線

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產(chǎn)品分類

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分析儀器

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產(chǎn)品介紹

熱膨脹儀 SD-DIL 402 Expedis Supreme 基本功能

軟化點(diǎn)檢測
軟件控制的力的調(diào)整（包括：線性力，恒定力，斜變力，步階力）
調(diào)制力
密度測量
用于溫度校正和檢測熱效應(yīng)的c-DTA® 功能
速率控制燒結(jié) RCS
曲線識別，通過數(shù)據(jù)庫對比識別未知的ΔL/L0曲線
密度測量，能夠測量樣品密度的連續(xù)變化，可應(yīng)用于固體、液體、熔體、粘稠樣品（如涂料），以及用于計算各向異性材料的體膨脹。

熱膨脹儀 SD-DIL 402 Expedis Supreme 技術(shù)參數(shù)

溫度范圍: -180 ... 2000°C（不同爐體）

升溫速率: 0 ... 100°C/min（不同爐體）

測量氣氛: 動態(tài)或靜態(tài)；氧化、還原、惰性、真空

樣品形態(tài): 固體、液體、粉末

樣品載荷: 10mN ... 3N，可變，可調(diào)制（選配）

選配擴(kuò)展功能: c-DTA®、譜圖檢索、速率控制燒結(jié)

量程: ±25000μm

測量分辨率: 0.1nm

測試模式: 單樣品/雙樣品，樣品長度自動檢測

Multitouch技術(shù) : 標(biāo)配

Nanoeye位移傳感及載荷控制技術(shù): 標(biāo)配