離心式恒加速度試驗(yàn)機(jī)（箱式）用于評估元器件、設(shè)備及其他電工電子產(chǎn)品在恒加速度環(huán)境（重力除外）下的結(jié)構(gòu)適應(yīng)性和性能是否良好，并獲得試品的電參數(shù)。

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